DOU 10/10/2023 - Diário Oficial da União - Brasil

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Nº 194, terça-feira, 10 de outubro de 2023
ISSN 1677-7069
Seção 3
Cargo: Tecnologista - Perfil: Todos
At é
Artigos publicados (e/ou aceitos) em periódicos internacionais indexados, ou patentes.
20,0
Autoria ou edição de livros científicos publicados por editoras com comitês editoriais.
10,0
Apresentações orais de trabalhos científicos em conferências internacionais e/ou conferências plenárias nacionais.
5,0
Capítulos de livros de editora com comitê editorial.
10,0
Cursos com carga horária mínima de 45 horas ministradas em programas de pós-graduação nas áreas do concurso ou correlatas.
10,0
Orientação concluída de Mestrado.
10,0
Orientação concluída de Doutorado.
20,0
Coordenação de projetos institucionais aprovados por agências de fomento.
10,0
Participação como membro titular de bancas de exame (concurso público em instituição de ensino e pesquisa de nível superior, livre-docência, mestrado, doutorado, qualificação de doutorado, trabalho de conclusão de
curso).
5,0
ANEXO IV
CONTEÚDO PROGRAMÁTICO
TECNOLOGISTA - TODOS OS PERFIS
CONHECIMENTOS BÁSICOS - MANHÃ
Língua Portuguesa: Elementos de construção do texto e seu sentido: gênero do texto (literário e não literário, narrativo, descritivo e argumentativo); interpretação e organização interna.
Semântica: sentido e emprego dos vocábulos; campos semânticos; emprego de tempos e modos dos verbos em português. Morfologia: reconhecimento, emprego e sentido das classes gramaticais;
processos de formação de palavras; mecanismos de flexão dos nomes e verbos. Sintaxe: frase, oração e período; termos da oração; processos de coordenação e subordinação; concordância nominal
e verbal; transitividade e regência de nomes e verbos; padrões gerais de colocação pronominal no português; mecanismos de coesão textual. Ortografia. Acentuação gráfica. Emprego do sinal
indicativo de crase. Pontuação. Reescrita de frases: substituição, deslocamento, paralelismo; variação linguística: norma culta.
Língua Inglesa: Conhecimento e uso das formas contemporâneas da linguagem inglesa. 2. Compreensão e interpretação de textos variados: domínio do vocabulário e da estrutura da
língua, ideias principais e secundárias, explícitas e implícitas, relações intratextuais e intertextuais. 3. Itens gramaticais relevantes para a compreensão dos conteúdos semânticos. Palavras e
expressões equivalentes. Elementos de referência.
Raciocínio Lógico-Matemático: Lógica: proposições, conectivos, equivalências lógicas, quantificadores e predicados. Conjuntos e suas operações, diagramas. Números inteiros, racionais e
reais e suas operações, porcentagem e juros. Proporcionalidade direta e inversa. Medidas de comprimento, área, volume, massa e tempo. Estrutura lógica de relações arbitrárias entre pessoas,
lugares, objetos ou eventos fictícios; dedução de novas informações das relações fornecidas e avaliação das condições usadas para estabelecer a estrutura daquelas relações. Compreensão e análise
da lógica de uma situação, utilizando as funções intelectuais: raciocínio verbal, raciocínio matemático, raciocínio sequencial, orientação espacial e temporal, formação de conceitos, discriminação de
elementos. Compreensão de dados apresentados em gráficos e tabelas. Raciocínio lógico envolvendo problemas aritméticos, geométricos e matriciais. Problemas de contagem e noções de
probabilidade. Geometria básica: ângulos, triângulos, polígonos, distâncias, proporcionalidade, perímetro e área. Plano cartesiano: sistema de coordenadas, distância. Problemas de lógica e
raciocínio.
TECNOLOGISTA - PERFIL 1
CONHECIMENTOS ESPECÍFICOS - TARDE
Conhecimentos Específicos: Introdução aos métodos espectroscópicos; Princípios físicos das técnicas: Aplicação da teoria quântica à espectroscopia; Modelos atômicos; Absorção atômica
e molecular de radiação: Espectros eletrônicos; Efeito da estrutura sobre a absorção; Lei de Beer; Interação da radiação com a matéria; Aproximação de Born-Oppenheimer; Espectroscopia rotacional;
Simetria molecular; Orbitais moleculares; Teoria das vibrações moleculares e transições vibrônicas; Região do espectro infravermelho; Grupos de simetria; princípios de emissão e detecção; radiação
eletromagnética e espectro eletromagnético; raios X característicos e raios X de espalhamento Compton; instrumentação, análises de espectros, aplicações.
Temas da Prova Oral:
1.Absorção atômica e molecular de radiação: espectros eletrônicos
2.Lei de Beer e efeito da estrutura
3.Interação da radiação com a matéria
4.Aproximação de Born-Oppenheimer
5.Espectroscopia rotacional, simetria molecular e orbitais moleculares
6.Teoria das vibrações moleculares e transições vibrônicas
7.Região do espectro infravermelho
8.Grupos de simetria
9.Princípios de emissão e detecção
10.Instrumentação, análises de espectros e aplicações
TECNOLOGISTA - PERFIL 2
CONHECIMENTOS ESPECÍFICOS - TARDE
Conhecimentos Específicos: Princípios Básicos de Funcionamento de Microscópios Eletrônicos: Componentes, Coluna Óptico-eletrônica, Canhão de Elétrons e Características da Fonte,
Sistema de Lentes, convergência do Feixe Eletrônico, Aberrações das Lentes; Formação da Imagem, Interações Elétrons-amostra, espalhamentos elásticos e inelásticos, Origem dos Sinais,
Dependência dos Elétrons Secundários com a composição da amostra, Profundidade de escape dos elétrons secundários, Resolução espacial, Detecção de elétrons secundários e retroespalhados,
Mecanismos de contraste: imagens e padrões de difração, imagens de campo claro e campo escuro; mecanismos e quantificação de contraste de espessura e de massa; identificação de defeitos
planares; Imagem por elétrons retroespalhados, Distribuição de energia, Profundidade de Escape , Resolução Espacial; espalhamento dos átomos no plano e no cristal; Lei de Bragg; aspectos práticos
da formação dos padrões de difração de área selecionada por microscopia eletrônica de transmissão; indexação dos planos de difração; vácuo e preparação de amostras para MEV e MET;
Microanálise na Microscopia Eletrônica: Origem dos Sinais, Radiação Contínua, Radiação Característica, Energia Crítica de Ionização, Energia dos Raios-X Característicos, Elétrons Auger; Características
da Radiação de Raios-X: Resolução Espacial, Direcionalidade do Sinal, Profundidade de Excitação, Absorção do Raio-X, Fluorescência do Raio-X; Espectrômetro de Energia Dispersiva: Processamento
do Sinal, Eficiência do Detector, Eficiência da Geometria do Detector, Resolução do Detector, Relação entre Altura do Pico e Background; Artefatos no Processo de Detecção dos Espectros de energia
dispersiva; Análise Qualitativa e quantitativa dos espectros por Energia Dispersiva.
Temas para Prova Oral:
1.Princípios básicos de funcionamento de microscópios eletrônicos: coluna óptico-eletrônica, canhão de elétrons e características da fonte, sistema de lentes, convergência do feixe
eletrônico
2.Formação da imagem: interações elétrons-amostra, espalhamentos elásticos e inelásticos e origem dos sinais
3.Tipos de detectores e imagens de elétrons secundários e retroespalhados
4.Mecanismos de contraste: imagens e padrões de difração, imagens de campo claro e campo escuro, mecanismos e quantificação de contraste de espessura e de massa
5.identificação de defeitos planares
6.Lei de Bragg e espalhamento dos átomos no plano e no cristal
7.Formação dos padrões e difração por microscopia eletrônica de transmissão e indexação dos planos de difração
8.Microanálise na Microscopia Eletrônica: Origem dos Sinais, Energia Crítica de Ionização e Energia dos Raios-X Característicos
9.Eficiência do Detector, Eficiência da Geometria do Detector, Resolução do Detector, Relação entre Altura do Pico e Background
10.Análise Qualitativa e quantitativa dos espectros por Energia Dispersiva e seus Artefatos
TECNOLOGISTA - PERFIL 3
CONHECIMENTOS ESPECÍFICOS - TARDE
Conhecimentos Específicos: Princípios básicos: DRX: Introdução à Difração de
Raios X, Radiação Eletromagnética, Ondas Eletromagnéticas, Espectro de ondas
Eletromagnéticas, Introdução aos raios X e suas propriedades, Espalhamento dos
Elétrons, Fundamentos da difração: lei de Bragg e condições de difração, Geração e
Detecção de Raios X, Fontes de raios X: tubos de raios X, síncrotrons; Detectores de raios
X: filme fotográfico, detectores de estado sólido. Medição de comprimento de onda e
intensidade dos raios X difratados. Cristalografia e Estrutura Cristalina: Estruturas
cristalinas e retículos cristalinos, Simetria e grupos espaciais, Índices de Miller e planos
cristalinos. Difração em Cristais Perfeitos: Padrões de difração em cristais perfeitos,
Determinação de parâmetros de rede a partir de padrões de difração, Intensidade dos
picos de difração e fatores de estrutura. Difração em Cristais Imperfeitos e Amorfos.
Efeitos
de distorção
cristalina
nos padrões
de
difração.
Difração em
materiais
policristalinos. Difração de raios X de amostras amorfas. Análise de Fases e Quantificação.
Análise de fases em misturas de compostos cristalinos. Métodos de quantificação por
difração de raios X. Identificação de fases cristalinas por comparação de padrões.
Técnicas Avançadas em Difração de Raios X: Difração de raios X em ângulo rasante (XRR),
Difração de raios X de monocristais, Difração de raios X de pós de nanomateriais.
Aplicações da Difração de Raios X: Difração de raios X na determinação de estruturas de
materiais, Aplicações em geologia, metalurgia, ciência de materiais, Caracterização
estrutural de proteínas e materiais biológicos. Análise de Dados e Interpretação:
Tratamento de dados de difração de raios X, Refinamento de estruturas cristalinas,
Interpretação qualitativa e quantitativa dos padrões de difração. XPS: Princípios Básicos:
Processo de excitação e detecção de fotoelétrons, Efeito fotoelétrico e processo de
ionização, Energia cinética e energia de ligação dos fotoelétrons, Potencial de trabalho e
função trabalho. Instrumentação: Componentes básicos de um sistema XPS, Fontes de
raios X: monocromática e não monocromática, Analisadores de energia de fotoelétrons:
hemisféricos e cilíndricos. Preparação de Amostras e Condições Experimentais, Limpeza e
tratamento de superfícies. Condições experimentais: vácuo, pressão de gás residual.
Espectros de Fotoelétrons e Análise de Energias de Ligação: Análise de espectros de
energia cinética, Determinação de energias de ligação e estados de oxidação, Ajuste de
picos e deconvolução de espectros. Efeito de Matriz e Quantificação: Efeito de matriz em
análises de superfície, Correção de efeitos de matriz na quantificação, Métodos de
quantificação absoluta e relativa. Espectroscopia de Alta Resolução (HR-XPS): Princípios
da HR-XPS, Melhoria na resolução de picos de energia de ligação, Aplicações de HR-XPS
em análises detalhadas. Análise de Componentes Principais (PCA): Introdução à análise de
componentes principais, Aplicação de PCA na análise de dados, Identificação de grupos
de elementos e estados químicos. Aplicações da técnica.
Temas para Prova Oral:
1.Fundamentos da difração: Lei de Bragg e condições de difração, geração e
detecção de raios X
2.Geometria dos cristais
3.Cristalografia e estrutura cristalina:
estruturas cristalinas e retículos
cristalinos, simetria e grupos espaciais, Índices de Miller e planos cristalinos
4.Efeitos de distorção cristalina nos padrões de difração
5.Análise de fases e quantificação, métodos de quantificação por difração de
raios X
6.Técnicas Avançadas em Difração de Raios X
7.Métodos experimentais: Laue e Debye Scherrer
8.XPS: princípios básicos: processo de excitação e detecção de fotoelétrons,
efeito fotoelétrico e processo de ionização
9.Espectroscopia de fotoelétrons (Auger, UPS, Absorção de raios-x)
10.Espectros de Fotoelétrons e Análise de Energias de Ligação: Análise de
espectros de energia cinética, determinação de energias de ligação e estados de
oxidação
TECNOLOGISTA - PERFIL 4
CONHECIMENTOS ESPECÍFICOS - TARDE
Conhecimentos Específicos: Princípios básicos da cromatografia: fundamentos
(partição, absorção, troca iônica e exclusão) e tipos de cromatografia; Cromatografia em
Camada Delgada (CCD): Princípios e aplicações; Cromatografia de Coluna: Fase normal e
fase reversa;
Cromatografia Líquida
de Alta Eficiência
(HPLC) e
suas variantes;
Cromatografia Gasosa (CG) e suas aplicações; Cromatografia acoplada à espectrometria
de massas (LC-MS e GC-MS); Cromatografia em condições supercríticas; Resolução e
eficiência em cromatografia; Otimização de condições cromatográficas: gradientes, fluxo
e
temperatura; Validação
de métodos
cromatográficos;
Instrumentação e
Fases
Estacionárias: Componentes básicos de um sistema cromatográfico; Fases móveis e
estacionárias; 
Detecção
e 
quantificação 
de 
analitos
cromatográficos; 
Colunas
cromatográficas; Parâmetros Cromatográficos e Otimização; Análise quantitativa de dados
cromatográficos: picos, tempos de retenção e quantificação.
Temas para Prova Oral:
1.Princípios básicos da cromatografia: fundamentos (partição, absorção, troca
iônica e exclusão)
2.Cromatografia em Camada Delgada (CCD): Princípios e aplicações
3.Cromatografia de Coluna: Fase normal e fase reversa
4.Cromatografia Líquida de Alta Eficiência (HPLC) e suas variantes
5.Cromatografia Gasosa (CG) e suas aplicações
6.Cromatografia acoplada à espectrometria de massas (LC-MS e GC-MS)
7.Cromatografia em condições supercríticas

                            

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