DOU 01/11/2023 - Diário Oficial da União - Brasil

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Nº 208, quarta-feira, 1 de novembro de 2023
ISSN 1677-7069
Seção 3
.
20. Certificados de cursos que não estejam em papel timbrado ou com o carimbo da
instituição ministrante, bem como sem informações do período de realização e nome do
candidato.
Ver item 3.2.1, alínea "c" e "d"
.
21. Não relacionado a área de atuação do cargo
Ver item 1
.
22. Publicações que não sejam de autoria do candidato.
Ver item 1
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23. Publicações não veiculadas em suportes reconhecidos.
Ver item 1
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24. Publicações em desacordo com o edital.
Ver item 1
ANEXO IV - CONTEÚDO PROGRAMÁTICO
TECNOLOGISTA - TODOS OS PERFIS
PROVA TEÓRICO-OBJETIVA - CONHECIMENTOS BÁSICOS - MANHÃ
Língua Portuguesa: Elementos de construção do texto e seu sentido: gênero do texto (literário e não literário, narrativo, descritivo e argumentativo); interpretação e
organização interna. Semântica: sentido e emprego dos vocábulos; campos semânticos; emprego de tempos e modos dos verbos em português. Morfologia: reconhecimento, emprego
e sentido das classes gramaticais; processos de formação de palavras; mecanismos de flexão dos nomes e verbos. Sintaxe: frase, oração e período; termos da oração; processos de
coordenação e subordinação; concordância nominal e verbal; transitividade e regência de nomes e verbos; padrões gerais de colocação pronominal no português; mecanismos de coesão
textual. Ortografia. Acentuação gráfica. Emprego do sinal indicativo de crase. Pontuação. Reescrita de frases: substituição, deslocamento, paralelismo; variação linguística: norma culta.
Língua Inglesa: Conhecimento e uso das formas contemporâneas da linguagem inglesa. 2. Compreensão e interpretação de textos variados: domínio do vocabulário e da
estrutura da língua, ideias principais e secundárias, explícitas e implícitas, relações intratextuais e intertextuais. 3. Itens gramaticais relevantes para a compreensão dos conteúdos
semânticos. Palavras e expressões equivalentes. Elementos de referência.
Raciocínio Lógico-Matemático: Lógica: proposições, conectivos, equivalências lógicas, quantificadores e predicados. Conjuntos e suas operações, diagramas. Números inteiros,
racionais e reais e suas operações, porcentagem e juros. Proporcionalidade direta e inversa. Medidas de comprimento, área, volume, massa e tempo. Estrutura lógica de relações
arbitrárias entre pessoas, lugares, objetos ou eventos fictícios; dedução de novas informações das relações fornecidas e avaliação das condições usadas para estabelecer a estrutura
daquelas relações. Compreensão e análise da lógica de uma situação, utilizando as funções intelectuais: raciocínio verbal, raciocínio matemático, raciocínio sequencial, orientação espacial
e temporal, formação de conceitos, discriminação de elementos. Compreensão de dados apresentados em gráficos e tabelas. Raciocínio lógico envolvendo problemas aritméticos,
geométricos e matriciais. Problemas de contagem e noções de probabilidade. Geometria básica: ângulos, triângulos, polígonos, distâncias, proporcionalidade, perímetro e área. Plano
cartesiano: sistema de coordenadas, distância. Problemas de lógica e raciocínio.
TECNOLOGISTA - PERFIL 1
PROVA TEÓRICO-OBJETIVA E DISCURSIVA - CONHECIMENTOS ESPECÍFICOS - TARDE
Conhecimentos Específicos: Introdução aos métodos espectroscópicos; Princípios físicos das técnicas: Aplicação da teoria quântica à espectroscopia; Modelos atômicos; Absorção
atômica e molecular de radiação: Espectros eletrônicos; Efeito da estrutura sobre a absorção; Lei de Beer; Interação da radiação com a matéria; Aproximação de Born-Oppenheimer;
Espectroscopia rotacional; Simetria molecular; Orbitais moleculares; Teoria das vibrações moleculares e transições vibrônicas; Região do espectro infravermelho; Grupos de simetria;
princípios de emissão e detecção; radiação eletromagnética e espectro eletromagnético; raios X característicos e raios X de espalhamento Compton; instrumentação, análises de espectros,
aplicações.
PROVA ORAL - TEMAS:
1. Absorção atômica e molecular de radiação: espectros eletrônicos
2. Lei de Beer e efeito da estrutura
3. Interação da radiação com a matéria
4. Aproximação de Born-Oppenheimer
5. Espectroscopia rotacional, simetria molecular e orbitais moleculares
6. Teoria das vibrações moleculares e transições vibrônicas
7. Região do espectro infravermelho
8. Grupos de simetria
9. Princípios de emissão e detecção
10. Instrumentação, análises de espectros e aplicações
TECNOLOGISTA - PERFIL 2
PROVA TEÓRICO-OBJETIVA E DISCURSIVA - CONHECIMENTOS ESPECÍFICOS - TARDE
Princípios Básicos de Funcionamento de Microscópios Eletrônicos: Componentes, Coluna Óptico-eletrônica, Canhão de Elétrons e Características da Fonte, Sistema de Lentes,
convergência do Feixe Eletrônico, Aberrações das Lentes; Formação da Imagem, Interações Elétrons-amostra, espalhamentos elásticos e inelásticos, Origem dos Sinais, Dependência dos
Elétrons Secundários com a composição da amostra, Profundidade de escape dos elétrons secundários, Resolução espacial, Detecção de elétrons secundários e retroespalhados,
Mecanismos de contraste: imagens e padrões de difração, imagens de campo claro e campo escuro; mecanismos e quantificação de contraste de espessura e de massa; identificação de
defeitos planares; Imagem por elétrons retroespalhados, Distribuição de energia, Profundidade de Escape , Resolução Espacial; espalhamento dos átomos no plano e no cristal; Lei de
Bragg; aspectos práticos da formação dos padrões de difração de área selecionada por microscopia eletrônica de transmissão; indexação dos planos de difração; vácuo e preparação de
amostras para MEV e MET; Microanálise na Microscopia Eletrônica: Origem dos Sinais, Radiação Contínua, Radiação Característica, Energia Crítica de Ionização, Energia dos Raios-X
Característicos, Elétrons Auger; Características da Radiação de Raios-X: Resolução Espacial, Direcionalidade do Sinal, Profundidade de Excitação, Absorção do Raio-X, Fluorescência do Raio-
X; Espectrômetro de Energia Dispersiva: Processamento do Sinal, Eficiência do Detector, Eficiência da Geometria do Detector, Resolução do Detector, Relação entre Altura do Pico e
Background; Artefatos no Processo de Detecção dos Espectros de energia dispersiva; Análise Qualitativa e quantitativa dos espectros por Energia Dispersiva.
PROVA ORAL - TEMAS:
1. Princípios básicos de funcionamento de microscópios eletrônicos: coluna óptico-eletrônica, canhão de elétrons e características da fonte, sistema de lentes, convergência do
feixe eletrônico
2. Formação da imagem: interações elétrons-amostra, espalhamentos elásticos e inelásticos e origem dos sinais
3. Tipos de detectores e imagens de elétrons secundários e retroespalhados
4. Mecanismos de contraste: imagens e padrões de difração, imagens de campo claro e campo escuro, mecanismos e quantificação de contraste de espessura e de massa
5. Identificação de defeitos planares
6. Lei de Bragg e espalhamento dos átomos no plano e no cristal
7. Formação dos padrões e difração por microscopia eletrônica de transmissão e indexação dos planos de difração
8. Microanálise na Microscopia Eletrônica: Origem dos Sinais, Energia Crítica de Ionização e Energia dos Raios-X Característicos
9. Eficiência do Detector, Eficiência da Geometria do Detector, Resolução do Detector, Relação entre Altura do Pico e Background
10. Análise Qualitativa e quantitativa dos espectros por Energia Dispersiva e seus Artefatos
TECNOLOGISTA - PERFIL 3
PROVA TEÓRICO-OBJETIVA E DISCURSIVA - CONHECIMENTOS ESPECÍFICOS - TARDE
Princípios básicos: DRX: Introdução à Difração de Raios X, Radiação Eletromagnética, Ondas Eletromagnéticas, Espectro de ondas Eletromagnéticas, Introdução aos raios X e
suas propriedades, Espalhamento dos Elétrons, Fundamentos da difração: lei de Bragg e condições de difração, Geração e Detecção de Raios X, Fontes de raios X: tubos de raios X,
síncrotrons; Detectores de raios X: filme fotográfico, detectores de estado sólido. Medição de comprimento de onda e intensidade dos raios X difratados. Cristalografia e Estrutura
Cristalina: Estruturas cristalinas e retículos cristalinos, Simetria e grupos espaciais, Índices de Miller e planos cristalinos. Difração em Cristais Perfeitos: Padrões de difração em cristais
perfeitos, Determinação de parâmetros de rede a partir de padrões de difração, Intensidade dos picos de difração e fatores de estrutura. Difração em Cristais Imperfeitos e Amorfos.
Efeitos de distorção cristalina nos padrões de difração. Difração em materiais policristalinos. Difração de raios X de amostras amorfas. Análise de Fases e Quantificação. Análise de fases
em misturas de compostos cristalinos. Métodos de quantificação por difração de raios X. Identificação de fases cristalinas por comparação de padrões. Técnicas Avançadas em Difração
de Raios X: Difração de raios X em ângulo rasante (XRR), Difração de raios X de monocristais, Difração de raios X de pós de nanomateriais. Aplicações da Difração de Raios X: Difração
de raios X na determinação de estruturas de materiais, Aplicações em geologia, metalurgia, ciência de materiais, Caracterização estrutural de proteínas e materiais biológicos. Análise de
Dados e Interpretação: Tratamento de dados de difração de raios X, Refinamento de estruturas cristalinas, Interpretação qualitativa e quantitativa dos padrões de difração. XPS: Princípios
Básicos: Processo de excitação e detecção de fotoelétrons, Efeito fotoelétrico e processo de ionização, Energia cinética e energia de ligação dos fotoelétrons, Potencial de trabalho e função
trabalho. Instrumentação: Componentes básicos de um sistema XPS, Fontes de raios X: monocromática e não monocromática, Analisadores de energia de fotoelétrons: hemisféricos e
cilíndricos. Preparação de Amostras e Condições Experimentais, Limpeza e tratamento de superfícies. Condições experimentais: vácuo, pressão de gás residual. Espectros de Fotoelétrons
e Análise de Energias de Ligação: Análise de espectros de energia cinética, Determinação de energias de ligação e estados de oxidação, Ajuste de picos e deconvolução de espectros.
Efeito de Matriz e Quantificação: Efeito de matriz em análises de superfície, Correção de efeitos de matriz na quantificação, Métodos de quantificação absoluta e relativa. Espectroscopia
de Alta Resolução (HR-XPS): Princípios da HR-XPS, Melhoria na resolução de picos de energia de ligação, Aplicações de HR-XPS em análises detalhadas. Análise de Componentes Principais
(PCA): Introdução à análise de componentes principais, Aplicação de PCA na análise de dados, Identificação de grupos de elementos e estados químicos. Aplicações da técnica.
PROVA ORAL - TEMAS:
1. Fundamentos da difração: Lei de Bragg e condições de difração, geração e detecção de raios X
2. Geometria dos cristais
3. Cristalografia e estrutura cristalina: estruturas cristalinas e retículos cristalinos, simetria e grupos espaciais, Índices de Miller e planos cristalinos
4. Efeitos de distorção cristalina nos padrões de difração
5. Análise de fases e quantificação, métodos de quantificação por difração de raios X
6. Técnicas Avançadas em Difração de Raios X
7. Métodos experimentais: Laue e Debye Scherrer
8. XPS: princípios básicos: processo de excitação e detecção de fotoelétrons, efeito fotoelétrico e processo de ionização
9. Espectroscopia de fotoelétrons (Auger, UPS, Absorção de raios-x)
10. Espectros de Fotoelétrons e Análise de Energias de Ligação: Análise de espectros de energia cinética, determinação de energias de ligação e estados de oxidação
TECNOLOGISTA - PERFIL 4
PROVA TEÓRICO-OBJETIVA E DISCURSIVA - CONHECIMENTOS ESPECÍFICOS - TARDE
Princípios básicos da cromatografia: fundamentos (partição, absorção, troca iônica e exclusão) e tipos de cromatografia; Cromatografia em Camada Delgada (CCD): Princípios
e aplicações; Cromatografia de Coluna: Fase normal e fase reversa; Cromatografia Líquida de Alta Eficiência (HPLC) e suas variantes; Cromatografia Gasosa (CG) e suas aplicações;
Cromatografia acoplada à espectrometria de massas (LC-MS e GC-MS); Cromatografia em condições supercríticas; Resolução e eficiência em cromatografia; Otimização de condições
cromatográficas: gradientes, fluxo e temperatura; Validação de métodos cromatográficos; Instrumentação e Fases Estacionárias: Componentes básicos de um sistema cromatográfico; Fases
móveis e estacionárias; Detecção e quantificação de analitos cromatográficos; Colunas cromatográficas; Parâmetros Cromatográficos e Otimização; Análise quantitativa de dados
cromatográficos: picos, tempos de retenção e quantificação.
PROVA ORAL - TEMAS:
1. Princípios básicos da cromatografia: fundamentos (partição, absorção, troca iônica e exclusão)
2. Cromatografia em Camada Delgada (CCD): Princípios e aplicações
3. Cromatografia de Coluna: Fase normal e fase reversa
4. Cromatografia Líquida de Alta Eficiência (HPLC) e suas variantes
5. Cromatografia Gasosa (CG) e suas aplicações
6. Cromatografia acoplada à espectrometria de massas (LC-MS e GC-MS)
7. Cromatografia em condições supercríticas
8. Otimização e validação de condições cromatográficas: gradientes, fluxo, temperatura, resolução e eficiência
9. Instrumentação e fases móveis e estacionárias: componentes básicos de um sistema cromatográfico
10. Análise quantitativa de dados cromatográficos: picos, tempos de retenção e quantificação